半导体检测设备
TGV 诱导后 AOI 检测设备:LumiPanel HS2000
LumiPanel HS2000实现了 “检测-反馈-补打”一体化闭环控制。系统不仅能够以纳米级精度检测诱导点的位置、形貌与阵列完整性,更能将漏点或不良点的精确坐标实时同步至激光诱导设备,自动触发补打指令,实现诱导缺失位置的精准二次加工,确保每一颗通孔的诱导点都完整、准确、符合设计预期。

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1、检测来料:

①检测产品:TGV RDL玻璃基板;

②板材尺寸:板级@510mm*515mm,晶圆级@6"、8"、12";

③来料厚度:0.1-1.5mm;

④上下料方式:半自动。

2、检测项目:改性区域有无、孔异形、板面脏污、裂纹、划痕等。

3、检测方法:纳米级检测+ AF 自动对焦技术,AI改性区异常缺陷检测算法。

4、检测精度:

①最小缺陷:0.5um;

②量测精度:/;

③位置度:/。

5、检测节拍:2WPH。

6、整机参数:

①设备尺寸:1730x1900x2060mm(不含三色灯);

②设备重量:2600kg。

7、选配:面板FOUP EFEM(全自动机型)、晶圆级治具、数据存储服务器、产品ID读码、SECS/GEM。

  • 实现检测-反馈-补打闭环管理,将缺陷拦截在本工序之内
  • AF自动对焦及纳米级精密运动平台

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