半导体检测设备
先进封装的晶圆检测和计量:NovaPack NP1000
NovaPack NP1000是业内领先的2D+3D+IR多模态一体化检测平台,集成了高分辨率2D缺陷检测、纳米级3D形貌计量、近红外透射内部成像三大核心能力,实现对先进封装晶圆从表面到内部、从二维到三维的全方位质量表征。

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1、检测来料:

①检测产品:切割前裸晶圆,切割后贴膜扩片晶圆;

②晶圆尺寸:6"、8"、12";

③上料载台:Open Cassette、FOUP、FOSB;

④上下料方式:双臂机械手自动上下料。

2、检测项目:

①2D检测:脏污、异物、划痕、残胶、气泡、崩边、切割道隐裂、RDL检测等;
②3D检测:Bump高度、共面度、RDL线高。

3、检测方法:2D+3D+IR 多模态融合,AI先进封装缺陷检测算法。

4、检测精度:

①最小缺陷:0.5um;

②测量精度:≤0.2um;

③位置度:/

5、检测节拍:≥85WPH@8”,≥40WPH@12”。

6、整机参数:

①设备尺寸:2880mmx1660mmx2220mm(不含三色灯);

②设备重量:2900kg。

7、选配:数据存储服务器,SECS/GEM。

  • 2D+3D+IR多模态一体化检测平台
  • 具备隐裂检测能力
  • 具备背检功能

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