半导体检测设备
TGV RDL线路AOI检测设备:LumiPanel HS5000
LumiPanel HS5000采用穹顶光均匀照明与荧光光致发光成像技术,实现对多层RDL结构中每一层铜线路的精准检测,有效屏蔽下层线路的光学干扰。系统可同时兼容 PR、PSPI、ABF、BCB 等多种透明介质材料,通过多光谱融合与AI算法,清晰呈现2*2μm L/S精细线路的真实形貌。

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1、检测来料:

①检测产品:TGV RDL玻璃基板;

②板材尺寸:板级@510mm*515mm,晶圆级@6"、8"、12";

③来料厚度:0.1-1.5mm;

④上下料方式:半自动。

2、检测项目:短路、断路、线凸、线缺、异物、凹坑/凸起、划痕、残膜、线宽&线距异常等。

3、检测方法:高精度线扫 TDI 相机+多模态照明系统,AI线路缺陷检测算法。

4、检测精度:

①最小缺陷:1um;

②量测精度:≤1um;

③位置度:/。

5、检测节拍:10WPH。

6、整机参数:

①设备尺寸:1730x1900x2060mm(不含三色灯);

②设备重量:2600kg。

7、选配:3D形貌量测、面板FOUP EFEM(全自动机型)、晶圆级治具、数据存储服务器、产品ID读码、SECS/GEM。

  • 透明介质兼容性:全面覆盖 PR、PSPI、ABF、BCB 等主流RDL介质材料,针对不同材料的光学特性自动优化成像参数。
  • 超精细线路检测:支持2*2μm L/S 精细基板制程,满足Chiplet、HBM等下一代封装需求。
  • 穹顶光均匀照明系统
  • 荧光光致发光(PL)成像技术

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